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光學(xué)粗糙度儀的產(chǎn)品優(yōu)勢

日期:2025-04-02 22:33
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摘要:
    光學(xué)粗糙度儀是一種測量表面粗糙度和預(yù)測紙張可印刷性的儀器。與傳統(tǒng)的光學(xué)表面粗糙度測量方法相比,它速度更快、質(zhì)量更好、成本更低。該方法由Innventia開發(fā),十多年來已被證明是評估紙張表面和打印缺陷之間相關(guān)性的一種出色測試方法。

優(yōu)勢:

    快速光學(xué)方法——幾秒鐘內(nèi)即可生成測試報告

    可印刷性綜合預(yù)測

    低成本測量設(shè)備

    廣泛的測量范圍

    高分辨率CMOS攝像機

    易于安裝和啟動

    符合人體工程學(xué),自動化,操作簡單

    采用觸摸屏和用戶友好界面

    輪廓測量配有帶材給料機

    低維護量

尊敬的客戶:

    本公司還有軸類測量、螺紋測量儀、TRIMOS測長機產(chǎn)品,您可以通過網(wǎng)頁撥打本公司的服務(wù)專線了解更多產(chǎn)品的詳細信息,服務(wù)是我們的追求,歡迎新老客戶放心選購自己心儀產(chǎn)品,我們將竭誠為您服務(wù)!

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